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Low-e膜層四點(diǎn)電阻測(cè)試儀

Low-e膜層四點(diǎn)電阻測(cè)試儀

詳細(xì)信息

RC3175/RC2175


Low-e膜層四點(diǎn)電阻測(cè)試儀


RC2175

RC3175

單位

量程

0-1999

0-199.9

Ohms/square

讀數(shù)

1

0.1

精度

3%

0.9%


            國(guó)家玻璃質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心
            地  址:河北省秦皇島市河北大街西段91號(hào)
            郵  編:066004
            電  話:0335-5911598
            手  機(jī):13633332990
            傳  真:0335-8051865
            E-mail:wanglixiang100@163.com
            網(wǎng)  址:http://m.galantprint.cn
            聯(lián)系人:王立祥

設(shè)備開(kāi)發(fā)

技術(shù)支持:艾米科技
 
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